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集成电路测试技术与实践

集成电路测试技术与实践

定  价:59 元

  • 作者:刘晋东[等]编著
  • 出版时间:2025/9/1
  • ISBN:9787111787457
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TN407 
  • 页码:224页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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本书聚焦集成电路测试领域,系统且全面地阐述了相关理论、技术与实践应用,为集成电路相关专业学生及从业者提供了极具价值的知识体系。本书将理论知识与丰富的实际案例相结合,紧跟行业前沿技术,为读者提供了集成电路测试领域从基础到前沿、从理论到实践的全方位指导,是一本助力读者掌握集成电路测试技术、解决实际问题的实用教材。全书共6章,分别是绪论、集成电路测试技术基础、数字集成电路测试技术与实践、模拟集成电路测试技术与实践、数模混合集成电路测试技术与实践,以及其他典型电路测试技术与实践。
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