关于我们
新书资讯
新书推荐

集成电路测试技术

集成电路测试技术

定  价:59.8 元

  • 作者:李春霞主编
  • 出版时间:2026/8/1
  • ISBN:9787115678584
  • 出 版 社:人民邮电出版社
  • 中图法分类:TN407 
  • 页码:230页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
9
7
6
8
7
7
8
1
5
1
8
5
4
本书首先介绍集成电路的发展和研发制造流程,以及测试的重要性;其次介绍集成电路测试原理、测试设备和测试代码开发;最后通过企业项目化的芯片测试案例,介绍测试框架搭建、测试方案设计,以及测试代码编写、编译和调试,测试结果分析和总结,帮助读者提高实际动手能力,掌握设备、仪器的使用方法和技能。
 你还可能感兴趣
 我要评论
您的姓名   验证码: 图片看不清?点击重新得到验证码
留言内容