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集成电路测试开发

集成电路测试开发

定  价:59.8 元

  • 作者:刘雪春,何纪法主编
  • 出版时间:2025/1/1
  • ISBN:9787115665935
  • 出 版 社:人民邮电出版社
  • 中图法分类:TN407 
  • 页码:222页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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本书详细介绍了电子元件及其集成电路的测试开发流程,全书包括测试开发流程、电阻的测试、二极管的测试、三极管的测试、MOSFET的测试、组合逻辑芯片测试开发、时序逻辑芯片测试开发、运算放大器的测试开发、电源管理芯片测试开发九个项目。大部分项目包含“知识准备”“项目实施”和“技能训练”三个部分,确保读者能够系统地学习每种电子元件的测试技术,并通过实践提升自己的动手能力和问题解决能力。
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