本书包括9个项目，分别为常用半导体元件性能与测试、线性放大电路制作与测试、集成运算放大器应用电路制作与测试、波形产生和变换电路制作与测试、电源电路制作与测试、基本逻辑电路制作与测试、组合逻辑电路制作与测试、触发器和时序逻辑电路制作与测试、数/模和模/数转换电路制作与测试。