全书共7章，以“基础-理论-机制-技术-应用”为逻辑脉络：第1章概述有机半导体、其掺杂特性及OLED、OPV、OFET等核心器件架构；第2章对比晶体、非晶体与有机半导体的有序/无序差异，解析态密度与局域态，夯实缺陷理论基础；第3章阐述缺陷对载流子输运及材料光学特性的影响；第4章详解ESR、荧光光谱、TSC、DLTS等缺陷研究技术的原理与应用；第5章梳理有机材料与器件中结构、杂质、界面等缺陷来源；第6章分析缺陷对器件效率、稳定性及老化的作用，最后展望研究方向。