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半导体测试分析技术

半导体测试分析技术

定  价:35 元

  • 作者:俞健,杨晨主编
  • 出版时间:2026/12/1
  • ISBN:9787518344895
  • 出 版 社:石油工业出版社
  • 中图法分类:TN304.07 
  • 页码:157
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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读者对象:光伏与半导体专业师生及产业技术人员

本书从材料和器件的角度出发,以光伏新能源领域中涉及的半导体器件和材料的测试技术为重点,采用”测试技术原理--测试设备与仪器--关键材料与器件应用--转换效率计算”的知识与技术结构体系,全面概述近年来国内外在光伏新能源与半导体材料测试技术领域中的研究发展现状和技术成果,重点论述典型的光伏与半导体领域测试技术方法与计算方法,构建一个系统而全面的光伏新能源与半导体材料测试技术的知识体系。并通过紧密联系产业实际,提供丰富的案例和实用的操作指导,使其既具有理论性和前沿性,也具有可读性和实用性,可有效推动教学与产业的深度融合和共同发展。
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