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谱学分析测试技术与应用

谱学分析测试技术与应用

定  价:38 元

  • 作者:徐超主编
  • 出版时间:2026/3/1
  • ISBN:9787576724424
  • 出 版 社:哈尔滨工业大学出版社
  • 中图法分类:O433 
  • 页码:114页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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本书涵盖了光谱、能谱、核磁共振等多种谱学技术的基本概念、原理、应用领域及案例,通过对本书的学习,读者能够深入理解和全面掌握这些关键技术。谱学分析涉及多个学科的交叉,本书将各个学科领域中的最新研究成果和技术进展进行整合和解析。本书还探讨了谱学分析技术未来的发展方向和可能的创新应用,帮助读者在科技前沿保持敏锐的触觉,并为未来的研究和技术应用做好准备。
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