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互换性与技术测量

互换性与技术测量

定  价:49 元

  • 作者:孙伦业,李君主编
  • 出版时间:2026/6/1
  • ISBN:9787121530692
  • 出 版 社:电子工业出版社
  • 中图法分类:TG801 
  • 页码:72页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
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读者对象:本书结构完整,选择性强,可作为高等院校机械类和近机类各专业的本科和高职、高专的教材,也可以供工程技术人员及计量、检验人员参考。

本书以国家最新颁布的产品几何技术规范标准、检测技术为主线,结合现代企业对人才培养的需求进行修订。本书主要内容包括绪论,孔、轴的极限与配合,几何公差及检测,表面粗糙度轮廓及其评定,尺寸检测与光滑极限量规设计,滚动轴承的公差与配合,平键、花键联接的公差配合与检测,圆锥的公差配合及检测,螺纹连接的公差与配合,渐开线圆柱齿轮公差与检测和测量技术基础。
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