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中国分析测试技术丛书--扫描探针显微分析

中国分析测试技术丛书--扫描探针显微分析

定  价:168 元

丛书名:国家出版基金项目

  • 作者:孙洁林等编著
  • 出版时间:2026/7/1
  • ISBN:9787122505217
  • 出 版 社:化学工业出版社
  • 中图法分类:O657.99 
  • 页码:632
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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《扫描探针显微分析》是“中国分析测试技术丛书”的一个分册。 扫描探针显微分析技术主要用于在纳米乃至原子尺度上观察和分析材料的表面形貌,并同步测量其力学、电学、磁学、光学等多种物理化学性质,广泛应用于从基础科学研究到新材料、微电子和生物医学等产业领域的精密检测与表征。本书编撰的主要目的是为初学者乃至纳米应用专家提供一本深入浅出的工具书,深入系统地阐述扫描探针显微分析的基本原理、仪器系统、分析功能及应用细节。本书主要内容包括扫描探针显微分析的物理原理、仪器系统组成和工作特点、多种工作环境、数据处理和测量标准化,并专篇介绍了基于扫描探针的多种显微分析技术,如力学、电学、光谱学测量及纳米加工等,本书还概述了扫描探针显微分析技术在纳米材料、生物科学和工业中的应用,为初学者提供多学科交叉应用的拓展前景。 本书可供仪器分析,尤其是扫描探针显微分析领域的科技人员,高等院校教师、研究生及高年级本科生阅读;也适用于材料、化学、化工、生物、食品、医药、农业等领域的分析工作者。
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