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LED芯片制造及可靠性测试技术

LED芯片制造及可靠性测试技术

定  价:188 元

  • 作者:伊晓燕主编
  • 出版时间:2026/3/1
  • ISBN:9787111801634
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TN383.05 
  • 页码:647页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:24cm
  • 商品库位:
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本书对LED芯片制造及可靠性测试技术进行了全面且系统的深入剖析,旨在为读者提供清晰、详尽的学习和实践指南。书中不仅涵盖了LED芯片制造的基本原理、工艺流程,还深入探讨了可靠性测试的关键技术和方法。具体内容包括LED基本原理、参数与特性,LED材料制备方法与检测技术,AlGaInP黄红光LED外延芯片设计与制造技术,InGaN蓝绿光LED外延芯片设计与制造技术,InGaN基长波长LED,AlGaN紫外LED外延芯片设计与制造技术,LED芯片新结构与新技术,LED器件封装与测试技术,LED器件热特性,以及LED器件可靠性及加速测试模型。
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