差示扫描量热技术_(美)约瑟夫·门泽尔(JosephD.Menczel)，(美)扬努什·格雷博维茨(JanuszGrebowicz)著_9787312064494_北京普习文化传播有限公司

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差示扫描量热技术

差示扫描量热技术

定　　价：240 元

作者：(美)约瑟夫·门泽尔(JosephD.Menczel)，(美)扬努什·格雷博维茨(JanuszGrebowicz)著
出版时间：2025/1/1
ISBN：9787312064494
出版社：中国科学技术大学出版社

中图法分类：O657.7
页码：951页
纸张：
版次：1
开本：26cm
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内容简介

本书不仅较为系统地介绍了传统的热流式DSC和功率补偿式DSC的原理、仪器、实验、数据分析以及在常见领域中的典型应用，还介绍了近年来受到广泛关注的调制温度DSC(MTDSC)、在芯片量热基础上发展起来的闪速DSC以及与DSC相关的联用分析技术。

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