本书主要介绍了用X射线衍射分析材料结构的几种常用实验方法。主要内容包括X射线衍射仪的构造和使用、物相定性分析、物相定量分析、点阵常数精确测量、晶粒尺寸和微观应变的测定、残余内应力的测定等实验，简单介绍了Rietveld全谱拟合晶体结构精修方法。每个实验除了介绍实验原理、实验方法和步骤之外，还给出了实验及数据处理过程中的注意事项、实验报告要求和适量的思考题。