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汽车芯片质量可靠性检测评估指引

汽车芯片质量可靠性检测评估指引

定  价:158 元

  • 作者:王勇等主编
  • 出版时间:2026/1/1
  • ISBN:9787030836908
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:F426.471 
  • 页码:158页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:29cm
  • 商品库位:
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本书共四章。第1章概述汽车芯片定义、分类、应用及产业链现状,分析市场需求增长和技术瓶颈。第2章详解汽车芯片标准体系,重点解读AEC-Q系列标准(包括质量可靠性管理原则、可靠性验证方案和试验执行标准),并简述欧洲AQG标准。第3章阐述检测评估方法,介绍AEC-Q100工作思路、试验项目(如环境应力、机械试验、电性能验证)的目的、失效机理及注意事项。第4章从用户视角提供AEC-Q检测报告阅读指南,构建“定性评价+定量评分”的评价工具,帮助快速判断产品质量。

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