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图解高可靠性SiC功率半导体器件与封装技术

图解高可靠性SiC功率半导体器件与封装技术

定  价:69 元

  • 作者:(日)岩室宪幸著
  • 出版时间:2025/9/1
  • ISBN:9787111790990
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TN305.94-64 
  • 页码:140页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:21cm
  • 商品库位:
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全书共有5章,首先讲解了包括功率半导体器件基础,如种类、结构、在电路中的作用等;接着阐述了硅功率半导体器件现状,重点聚焦SiC功率半导体器件,并深入探讨了SiC-MOSFET的结构、原理、应用、发展现状、面临的挑战及解决方法,详细论述了其耐受能力指标,如短路、关断等耐受能力,最后讲解了SiC-MOSFET封装技术。
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