引自Wiley出版社，原著由美国密歇根大学GLENN FREDERICK KNOLL教授撰写。本书为上册，从辐射源和辐射与物质相互作用的基本原理入手，详细介绍了电离室、正比计数器、盖革-米勒计数器、闪烁探测器、半导体探测器等各类辐射探测器的工作原理和应用，以及计数统计与误差预测和闪烁体辐射光谱学等内容。Knoll教授通过丰富的实例、图表和参考文献，使得复杂的理论知识变得清晰易懂，同时确保了内容的深度和严谨性。可作为核工程和放射科学专业的本科生或研究生教材，用于核仪器和辐射测量相关课程的教学，也可供医学物理、环境监测和工业应用等领域专业人士参考使用。

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序言

GLENN FREDERICK KNOLL，密歇根大学工程学院核工程和放射科学教授。袁国梁，核工业西南物理研究院研究员，长期从事核聚变等离子体中子通量、中子能谱和X射线能谱诊断研究；主持国际热核聚变实验堆计划中子产额诊断研制项目2项，国家自然科学基金重点项目、面上项目以及磁约束聚变能专项等国家级项目3项。