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高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究

高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究

定  价:42 元

  • 作者:张洋著
  • 出版时间:2024/5/1
  • ISBN:9787548755371
  • 出 版 社:中南大学出版社
  • 中图法分类:F273.1 
  • 页码:233页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:21cm
  • 商品库位:
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本书从个人和企业两个层面选取15个指标,构建高管团队风险偏好综合测度指标体系,建构了高管团队风险偏好综合测度模型,分析了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新行为的影响效应,探讨了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新绩效的影响效应,揭示了失败再创新行为在高管团队风险偏好与失败再创新绩效间的中介效应。
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