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公差配合与技术测量
定 价:35 元
作者:周京,黄颖主编
出版时间:2023/1/1
ISBN:9787560666617
出 版 社:西安电子科技大学出版社
中图法分类:
TG801
页码:147页
纸张:
版次:1
开本:26cm
商品库位:
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读者对象
:高职
内容简介
本书结合新时代高职高专院校教育要求和特点,以“必备、够用”为原则组织内容,力求语言简练、条理清晰、深入浅出,以任务引入与思考的方式引导相关的内容学习,强化理论性与应用性的结合。本书共分八个项目,分别为绪论、测量技术基础、极限与配合基础、形状和位置公差、光滑极限量规设计、表面粗糙度及检测、螺纹结合的公差与检测、圆锥的公差配合及测量。
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