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科技查新:研究与实践

科技查新:研究与实践

定  价:98 元

  • 作者:肖沪卫 主编
  • 出版时间:2008/10/1
  • ISBN:9787543936690
  • 出 版 社:上海科学技术文献出版社
  • 中图法分类:G354.2 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
  • 商品库位:
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科技查新作为科技管理的一项基础工作,在科研立项、科技成果评估、专利申请、技术交易等活动中发挥着重要的文献评价作用。
  本书总结国内外相关理论及实践,构筑了科技查新工作的完整框架和方法体系,全面深入阐述了科技查析的基本原理、操作方法和各类查新报告的撰写技巧。内容涉及科技查新流程分析、科技查新方法研究和新颖性查新报告、水平检索报告、专利二次开发查新报告、专利侵权查新报告、引文查新报告的撰写。本书结合具体案例进行内容解析和报告示范,深度揭示了科技查新的业务管理经验,且从实用角度出发,对科技查新信息资源进行归纳和导航。
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