互换性与技术测量_主编孙庆唐_9787302611431_北京普习文化传播有限公司

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互换性与技术测量

互换性与技术测量

定　　价：42 元

作者：主编孙庆唐
出版时间：2022/6/1
ISBN：9787302611431
出版社：清华大学出版社

中图法分类：TG801
页码：213
纸张：
版次：1
开本：26cm
商品库位：

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内容简介

本书主要包括概论、尺寸极限与配合、配合公差的应用、几何公差及检测、公差原则及几何公差选择、表面粗糙度、光滑极限量规、尺寸链、公称尺寸常用测量工具等内容, 集理论教学、实操实训为一体, 采用最新国家标准, 文字叙述精炼, 内容图文并茂、通俗易懂。

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