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互换性与技术测量
定 价:42 元
作者:主编孙庆唐
出版时间:2022/6/1
ISBN:9787302611431
出 版 社:清华大学出版社
中图法分类:
TG801
页码:213
纸张:
版次:1
开本:26cm
商品库位:
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内容简介
本书主要包括概论、尺寸极限与配合、配合公差的应用、几何公差及检测、公差原则及几何公差选择、表面粗糙度、光滑极限量规、尺寸链、公称尺寸常用测量工具等内容, 集理论教学、实操实训为一体, 采用最新国家标准, 文字叙述精炼, 内容图文并茂、通俗易懂。
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