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集成电路开发与测试(中级)

集成电路开发与测试(中级)

定  价:58 元

  • 作者:杭州朗迅科技有限公司 组编 居水荣 夏
  • 出版时间:2020/12/1
  • ISBN:9787040553062
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中图法分类:TN40 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
  • 商品库位:
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本书是1 X职业技能等级证书配套教材,对应于集成电路开发与测试职业技能等级证书,涵盖中级证书相关工作领域,由版图辅助设计、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用6个项目组成,针对助理版图设计工程师、助理设备保障工程师、助理软件调试工程师、外观检验员、测试员、生产保障技术员等岗位涉及的工作领域和任务所需的职业技能要求介绍相关理论知识和实操内容。 本书可作为集成电路开发与测试1 X职业技能等级证书(中级)的培训认证教材,也可作为高等职业院校相关实践环节教学用书或集成电路相关行业及企业员工的岗前培训教材,还可供工程技术人员参考使用。

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