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点击返回 当前位置:首页 > 中图法 【TN3 半导体技术】 分类索引
  •  功率半导体器件:封装、测试和可靠性
    • 功率半导体器件:封装、测试和可靠性
    • 邓二平、黄永章、丁立健 编著/2024-5-1/化学工业出版社
    • 本书讲述了功率半导体器件的基本原理,涵盖Si器件、SiC器件,GaN器件以及GaAs器件等;综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等;将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等,并详细介绍了测试标准、方法和原理,同步分析了测试设备和数据

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      定价:¥139  ISBN:9787122449344
  • 半导体材料
    • 半导体材料
    • 杨德仁/2024-5-1/电子工业出版社
    • 半导体材料是材料、信息、新能源的交叉学科,是信息、新能源(半导体照明、太阳能光伏)等高科技产业的材料基础。本书共15章,详细介绍了半导体材料的基本概念、基本物理原理、制备原理和制备技术,重点介绍了半导体硅材料(包括高纯多晶硅、区熔单晶硅、直拉单晶硅和硅薄膜半导体材料)的制备、结构和性质,阐述了化合物半导体(包括Ⅲ-Ⅴ族

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      定价:¥68  ISBN:9787121479731
  • 真空镀膜技术与应用
    • 真空镀膜技术与应用
    • 主编田灿鑫/2024-5-1/武汉理工大学出版社
    • 本书内容涵盖了真空镀膜的关键技术和实际应用。在介绍真空镀膜技术基础理论及应用的基础上,着重阐述了真空蒸发镀膜、真空溅射镀膜、真空离子镀膜、等离子体增强化学气相沉积的原理、工艺、应用等,紧接着介绍了薄膜厚度的测量、薄膜分析检测技术等方面的内容,最后详细阐述了工模具真空镀膜生产线的具体工艺流程。本书叙述深入浅出,内容丰富而

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      定价:¥98  ISBN:9787562969792
  • 锗尘中锗的二次富集及提取
    • 锗尘中锗的二次富集及提取
    • 刘丽霞著/2024-4-1/冶金工业出版社
    • 本书详细介绍了锗尘中锗的二次富集及提取,全书共分7章,内容包括绪论、实验方案、锗尘基础物理化学性质及造块、GeO2与氧化物间相互作用、锗尘中锗的二次富集研究、锗的微波湿法提取研究、结论。

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      定价:¥99.9  ISBN:9787502498436
  •  SMT基础与工艺
    • SMT基础与工艺
    • 李勇,夏明,陈骁康/2024-4-1/西南交通大学出版社
    • SMT是一门包含元器件、材料、设备、工艺以及表面组装电路基板设计与制造的综合电子产品装联技术,是在传统THT通孔插装元器件装联技术基础上发展起来的新一代微组装技术。随着半导体材料、元器件、电子与信息技术等相关技术的发展,使SMT组装的电子产品更具有体积小、性能好、功能全、价位低的综合优势,适应了数码电子产品向短、小、轻

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      定价:¥30  ISBN:9787564397784
  • 图解入门——半导体工作原理精讲 [日]西久保靖彦
    • 图解入门——半导体工作原理精讲 [日]西久保靖彦
    • [日]西久保靖彦/2024-4-1/机械工业出版社
    • 这是一本介绍半导体工作原理的入门类读物。全书共分4章,包括第1章的半导体的作用、类型、形状、制造方式、产业形态;第2章的理解导体、绝缘体和半导体的区别,以及P型半导体和N型半导体的特性;第3章的PN结、双极型晶体管、MOS晶体管、CMOS等;第4章涵盖了初学者和行业人士应该知道的技术和行业词汇表。本书适合想学习半导体的

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      定价:¥99  ISBN:9787111751670
  • 集成电路与等离子体装备
  • 基于弛豫铁电单晶PMN-PT的新型器件(英文版)
    • 基于弛豫铁电单晶PMN-PT的新型器件(英文版)
    • 方华靖/2024-3-1/清华大学出版社
    • 《基于弛豫铁电单晶PMN-PT的新型器件(英文版)》一书介绍了基于铌镁酸铅-钛酸铅晶体(PMN-PT)设计开发的原型器件,初步探索了铁电材料在信息技术领域的新应用。首先,利用PMN-26PT单晶作为介电层,单层二硫化钼作为沟道半导体构筑了一种光热调控型场效应晶体管,为FET器件提供了一种新的策略。其次,采用银纳米线作为

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      定价:¥89  ISBN:9787302657033
  • 图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲 [日]可靠性技术丛书编辑委员会
    • 图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲 [日]可靠性技术丛书编辑委员会
    • [日]可靠性技术丛书编辑委员会/2024-3-1/机械工业出版社
    • 本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍每个领域的某些方面。在第2~4章的末尾各列入了3道例题,这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者”资格认定考

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      定价:¥99  ISBN:9787111749622
  • 半导体光电子器件的原理及应用研究
    • 半导体光电子器件的原理及应用研究
    • 梁日芳,武文一著/2024-2-1/东北林业大学出版社
    • 作为国家信息产业的基础技术之一,光电子技术在宽带互联网、高性能计算、智能机器人、先进制造和智慧城市等多个领域起到关键性支撑作用。它也因此成为了衡量一个国家综合实力和国际竞争力的重要标志。本书依据未来半导体光电子器件及光电集成系统发展趋势,结合复合型人才培养需要,从半导体材料及其光电现象、半导体光电子器件的物理基础入手,

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      定价:¥49  ISBN:9787567434813