宽禁带功率半导体器件特性测试_(美)王飞(Fred Wang)，(美)张哲字(Zheyu Zhang)，(美)爱德华·A.琼斯(Edward A.Jones)著_9787111805854_北京普习文化传播有限公司

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宽禁带功率半导体器件特性测试

宽禁带功率半导体器件特性测试

定　　价：129 元

作者：(美)王飞(Fred Wang)，(美)张哲字(Zheyu Zhang)，(美)爱德华·A.琼斯(Edward A.Jones)著
出版时间：2026/4/1
ISBN：9787111805854
出版社：机械工业出版社

中图法分类：TN303
页码：295页
纸张：
版次：1
开本：24cm
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内容简介

该书涵盖了以下内容：脉冲静态特性测试、结电容特性测试、动态特性测试的基本原理、动态特性测试栅极驱动单元设计、布局设计与寄生参数优化、双脉冲测试保护设计、动态特性的测量与数据处理、串扰分析与抑制、三相系统的影响，以及拓扑设计注意事项。

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