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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究

基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究

定  价:74 元

  • 作者:潘二,刘富才著
  • 出版时间:2026/2/1
  • ISBN:9787577019444
  • 出 版 社:电子科技大学出版社
  • 中图法分类:TN16 
  • 页码:100页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:24cm
  • 商品库位:
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本书内容涵盖二维材料的制备与器件构筑、原子力显微镜及其衍生技术的应用、极化分布与畴结构的精细表征、界面耦合机制的物理解析等多个方面,形成了滑移铁电研究的系统性认识。本书不仅有助于加深对滑移铁电材料基本物理图像的理解,也为相关实验方法的构建与器件性能的提升提供了理论与技术指导。
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