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X射线成像:基础、工业技术与应用

X射线成像:基础、工业技术与应用

定  价:298 元

  • 作者:刘军,刘文杰,夏连胜
  • 出版时间:2026/3/1
  • ISBN:9787030852779
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:O434.1 
  • 页码:586
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:B5
  • 商品库位:
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读者对象:工程师、科研人员、高校教师,以及相关专业的学生

本书系统性地阐述了X射线成像技术的完整知识体系,涵盖从基础理论(如X射线物理原理、光子与物质相互作用)、技术方法(辐射源设计、探测器类型、辐射输运模拟、成像系统配置与优化、数字射线照相(DR)、计算机断层扫描(CT))到实际应用(航空航天零部件检测、货物安检、汽车制造监测、武器弹药表征、特殊核材料探测、文物与艺术品成像)的全链条内容,同时强调辐射剂量与安全防护(如剂量单位、屏蔽设计、线性无阈值(LNT)模型),并明确区分了工业与医学X射线成像的核心差异(如剂量关注度、探测器设计、动态范围)。本书还详细介绍了X射线成像技术的发展历程,从早期的X射线发现到现代工业CT的广泛应用,展现了这一技术在工业检测领域的革命性进步。书中不仅回顾了X射线成像技术的历史,还探讨了未来的发展趋势,包括分布式X射线源、先进算法以及新型探测器技术等。

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