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空间辐射效应与软件可靠性

空间辐射效应与软件可靠性

定  价:119 元

  • 作者:杨顺昆,邵麒著
  • 出版时间:2026/6/1
  • ISBN:9787030850348
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:X21 
  • 页码:121
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:24cm
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本书形成了一套面向复杂空间辐射环境的软件可靠性设计量化分析新技术体系,从故障模式、设计模式、可靠性建模、量化评估、仿真实验等方面出发,提供了系统性的理论方法与技术方案,对于深空探测装备软件系统可靠性的设计分析、测试验证与优化具有重要的指导价值。

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