馆配数据采访
客户服务
欢迎进入图书馆读者荐购服务平台! 图书馆读者
登录
图书馆单位
注册
首页
公司介绍
新书资讯
书单推荐
中图法分类
出版社分类
采访数据下载
使用指南
联系我们
关于我们
平 台 介 绍
读者荐购指南
图书馆使用指南
联 系 我 们
新书资讯
·二十四节气|白露
·二十四节气|立秋
·二十四节气|小暑
·建党105周年——不忘初心 砥砺前
·父亲节 | 山河不语 父爱如山:祝
·二十四节气|芒种
·六一快乐,书香相伴度童年
·二十四节气|小满
新书推荐
·时间的力量
·内心知道答案
·敦煌传
·安睡密码
·荣格心理学
·Python数据可视化开发实战
·历史的裂痕与文学的回应
·何处寻春
集成电路测试技术
定 价:69 元
作者:林洁主编
出版时间:2025/7/1
ISBN:9787111783022
出 版 社:机械工业出版社
中图法分类:
TN407@v5
页码:260页
纸张:
版次:1
开本:26cm
商品库位:
9
7
7
8
8
7
3
1
0
1
2
1
2
内容简介
本书基于职业岗位能力要求,立足新时代“中国芯”发展的战略需求,精心设计了6个项目,由浅入深、系统全面地介绍集成电路测试相关知识与技能。从集成电路搭建测试环境,到数字芯片和模拟芯片的典型参数测试,再到功能测试和综合电路测试,全方位训练学生的集成电路测试综合技能。在每个项目都引导学生传承工匠精神,将个人理想与民族复兴结合起来,立志肩负时代重任。
你还可能感兴趣
集成电路测试技术
我要评论
您的姓名
验证码:
留言内容