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集成电路测试技术

集成电路测试技术

定  价:69 元

  • 作者:林洁主编
  • 出版时间:2025/7/1
  • ISBN:9787111783022
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TN407@v5 
  • 页码:260页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:26cm
  • 商品库位:
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本书基于职业岗位能力要求,立足新时代“中国芯”发展的战略需求,精心设计了6个项目,由浅入深、系统全面地介绍集成电路测试相关知识与技能。从集成电路搭建测试环境,到数字芯片和模拟芯片的典型参数测试,再到功能测试和综合电路测试,全方位训练学生的集成电路测试综合技能。在每个项目都引导学生传承工匠精神,将个人理想与民族复兴结合起来,立志肩负时代重任。
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