本书介绍了Bayes小子样方法的理论及其在电子系统试验中的应用，主要包括：概率论和数理统计的基本理论及与电子系统试验密切相关的概率分布及其特性；电子系统试验中现用的数据处理方法及其存在的弊端；Bayes理论的基本内容及其在国防科技领域的典型应用；Bayes统计推断的理论，正态分布总体和二项分布总体未知参数的Bayes估计和假设检验及其相对于传统方法的先进性；SPOT(序贯验后加权检验)方法的基本理论，电子系统试验中的正态总体和二项总体未知参数的SPOT方法；以雷达探测距离和发现概率为例，详述历史数据的获取及整理、验前分布函数的获得、试验结果的Bayes估计和检验，探测距离和发现概率指标的SPOT检验等。 本书可作为从事电子系统或电子对抗系统数据处理、试验评估、试验设计以及统计决策领域科技人员的参考书，也可供高等院校本科生和研究生进行相关课题研究或课程学习时参考。