馆配数据采访
客户服务
欢迎进入图书馆读者荐购服务平台! 图书馆读者
登录
图书馆单位
注册
首页
公司介绍
新书资讯
书单推荐
中图法分类
出版社分类
采访数据下载
使用指南
联系我们
关于我们
平 台 介 绍
读者荐购指南
图书馆使用指南
联 系 我 们
新书资讯
·二十四节气|立秋
·二十四节气|小暑
·建党105周年——不忘初心 砥砺前
·父亲节 | 山河不语 父爱如山:祝
·二十四节气|芒种
·六一快乐,书香相伴度童年
·二十四节气|小满
·母亲节 | 时光不语 母爱无言:祝
新书推荐
·时间的力量
·内心知道答案
·敦煌传
·安睡密码
·荣格心理学
·Python数据可视化开发实战
·历史的裂痕与文学的回应
·何处寻春
芯片封装与测试
定 价:39 元
作者:关赫, 龙绪明, 李锋编著
出版时间:2022/11/1
ISBN:9787561282113
出 版 社:西北工业大学出版社
中图法分类:
TN43
页码:130页
纸张:
版次:1
开本:26cm
商品库位:
9
7
2
8
8
7
2
5
1
6
1
1
3
读者对象
:本书可作为高等院校的微电子、集成电路相关专业课程教材, 也可供电子制造工程师阅读参考
内容简介
本书共9章, 主要内容包括芯片封装概论、微电子制造技术、芯片封装材料、芯片封装工艺、芯片与电路板装配、先进封装技术、芯片封装可靠性测试、封装失效分析和芯片封装技术应用等。
你还可能感兴趣
智能卡与RFID技术(第2版)
芯粒测试
半导体分立器件和集成电路装调工(初、中、高级工)指导教程
芯片形式化验证原理、方法与实战
芯片安全导论
我要评论
您的姓名
验证码:
留言内容