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并行测试技术及应用

并行测试技术及应用

定  价:38 元

  • 作者:肖明清 ,付新华 著
  • 出版时间:2010/2/1
  • ISBN:9787118066302
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:TP338.6 
  • 页码:252
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16开
  • 商品库位:
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    《并行测试技术及应用》内容包括并行测试技术概述、并行测试系统开发过程、并行测试系统的资源优化配置、并行测试任务调度算法、并行测试系统接口适配器、并行测试系统面向对象的软件框架、并行测试系统的性能评估及并行测试系统的工程实现等。内容新颖、系统性强、理论联系实际,具有较高的理论和工程应用参考价值,是作者多年理论研究成果和工程实践经验的总结。
    《并行测试技术及应用》可供测试领域尤其是从事自动测试系统集成开发和研究的科技工作者使用,也可作为高等院校相关专业的教师和研究生进行有关课题研究或课程学习的参考书。
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