纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级_靳松、韩银和_9787302522997_北京普习文化传播有限公司

关于我们

新书资讯

·二十四节气｜立秋

·二十四节气｜小暑

·建党105周年——不忘初心砥砺前

·父亲节 | 山河不语父爱如山：祝

·二十四节气｜芒种

·六一快乐，书香相伴度童年

·二十四节气｜小满

·母亲节 | 时光不语母爱无言：祝

新书推荐

·时间的力量

·内心知道答案

·敦煌传

·安睡密码

·荣格心理学

·Python数据可视化开发实战

·历史的裂痕与文学的回应

·何处寻春

纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级

纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级

定　　价：69 元

作者：靳松、韩银和
出版时间：2019/6/1
ISBN：9787302522997
出版社：清华大学出版社

中图法分类：TN431.2
页码：188
纸张：
版次：1
开本：
商品库位：

9

7

5

8

2

7

2

3

9

0

9

2

7

内容简介

本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。

你还可能感兴趣

我要评论