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纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级

纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级

定　　价：69 元

作者：靳松、韩银和
出版时间：2019/6/1
ISBN：9787302522997
出版社：清华大学出版社

中图法分类：TN431.2
页码：188
纸张：
版次：1
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内容简介

本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。

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